ICP-MS法測定電子級高純異丙醇中痕量金屬雜質(zhì)

用電感耦合等離子體-質(zhì)譜(ICP-MS)的標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)(STD)和冷焰狀態(tài)(PS)測定電子級高純異丙醇中的18個痕量金屬雜質(zhì),用銦作內(nèi)標(biāo)可補(bǔ)償基體效應(yīng).方法檢出限為0.1×10-12～100×10-12,加標(biāo)回收率為80%～120%,長時間相對標(biāo)準(zhǔn)偏差(RSD)小于7%.ICP-MS測定結(jié)果與ICP光譜測定結(jié)果基本一致,但I(xiàn)CP-MS提高了分析的準(zhǔn)確性和工作效率.

作 者： 孟蓉 鄭春麗 童淑麗   作者單位： 北京化學(xué)試劑研究所,北京,100022  刊 名： 化學(xué)試劑  ISTIC PKU 英文刊名： CHEMICAL REAGENTS  年，卷(期)： 2004 26(5)  分類號： O656.31  關(guān)鍵詞： 電子級高純異丙醇   ICP-MS   痕量金屬雜質(zhì)  

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