高密度電阻率法在基巖面探測中的應(yīng)用

以某大廈的勘察為例,介紹了高密度電阻率法在基巖面探測中的實(shí)際應(yīng)用.

作 者： 蔡光桃 武偉   作者單位： 蔡光桃(中國礦業(yè)大學(xué)科技產(chǎn)業(yè)集團(tuán)巖土公司,江蘇,徐州,221008)

武偉(江蘇徐州銅山新區(qū)水景嘉苑項目部,江蘇,徐州,221116) 

刊 名： 西部探礦工程  英文刊名： WEST-CHINA EXPLORATION ENGINEERING  年，卷(期)： 2009 21(3)  分類號： P631.322  關(guān)鍵詞： 高密度電阻率法   基巖面   探測  

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